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集成電路電磁兼容標準會議
作者:  日期:2019-06-03  瀏覽次數:246次  來源:
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       5月28-29日在北京參加集成電路電磁兼容標準工作組會議(第一次會議)。工作組下屬于全國半導體器件標準化技術委員會集成電路分技術委員會(SAC/TC78/SC2)。

       工作組組長崔強,副組長方文嘯(廣州賽寶),副組長吳建飛(天津濱海軍民融合研究院)。會議主要探討了集成電路電磁兼容標準國內現狀及國際最新進展以及測試技術,特別提到標準中可能會取消近場掃描法。工作組期望制定一個推薦標準,為芯片制造商在芯片設計制造中提供對芯片進行電磁兼容測試方法,并不要求測試等級和判定等級。芯片廠商和芯片使用方對芯片的電磁兼容測試并不是完全的支持,更在意芯片在電路中的電磁兼容性,而不是僅僅局限于芯片自身(可能更關心芯片的材料、熱學、力學、化學、電學等)。

       會議期間,工作組討論了 國家標準GB/T XXXXX.1《集成電路電磁發射測量第1部分:通用條件和定義》(工作組討論稿)和國家標準GB/T XXXXX.1 《集成電路電磁抗擾度測量第1部分:通用條件和定義》(工作組討論稿)。



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